Risposta ai guasti di Intel NCS2 sotto iniezione elettromagnetica
Uno studio completo di fault injection elettromagnetico a singolo impulso (EMFI) su Intel Neural Compute Stick 2 (NCS2) ha identificato quattro distinte categorie di esito. I ricercatori hanno eseguito 1.536 prove spot-test in hotspot specifici e circa 16.000 prove di ricerca dei parametri, utilizzando tre reti neurali convoluzionali addestrate su ImageNet (ResNet-18, ResNet-50, VGG-11) nell'ambiente runtime OpenVINO. I risultati dei singoli impulsi hanno indicato nessun cambiamento nell'accuratezza, corruzione silenziosa minore dei dati, degrado persistente significativo che è durato attraverso inferenze successive fino al ricaricamento del modello, e blocchi del dispositivo. Questa ricerca evidenzia le risposte ai guasti inadeguatamente comprese delle unità di elaborazione visiva in applicazioni critiche periferiche.
Fatti principali
- Intel Movidius Myriad X confezionato come Intel Neural Compute Stick 2 (NCS2)
- Campagna di fault injection elettromagnetico a singolo impulso (EMFI)
- Tre CNN addestrate su ImageNet: ResNet-18, ResNet-50, VGG-11
- Runtime OpenVINO utilizzato
- 1.536 prove spot-test
- Circa 16.000 prove di ricerca dei parametri
- Quattro classi di esito: nessun cambiamento, corruzione silenziosa minore dei dati, degrado persistente maggiore, blocchi del dispositivo
- Pubblicato un solo studio di fattibilità precedente
Entità
Istituzioni
- Intel
- OpenVINO